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2022-04-20

Categoria: Ciencias Policiales (M076)

28 de abril de 2022, Escuela Politécnica Superior. Alcalá de Henares (Madrid) |

Los objetivos de la Jornada de Análisis de vestigios forenses con la técnica instrumental de Difracción de Rayos X, se fundamentan en la necesidad de dar a conocer las posibilidades analíticas de la técnica en el campo forense. Dominar las posibilidades de la instrumentación redunda en el conocimiento de que tipo de vestigios son apropiados para su análisis y qué tipo de vestigios no aportan nada al proceso investigativo, al menos con esta técnica. Ante la pregunta sobre cuál es la efectividad de la resolución de hechos delictivos mediante el análisis de vestigios en los laboratorios forenses es necesario resaltar la capacitación de los intervinientes, el escrupuloso cumplimiento de la cadena de custodia en la recogida, envío y tratamiento de los vestigios, pero sobre todo se debería contar con la instrumentación adecuada y suficiente para el análisis de muestras de diferentes procedencias y distinta naturaleza.

El propósito de esta Jornada es mostrar a los asistentes la metodología de trabajo, posibilidades y también problemas analíticos, basados en la experiencia durante más de quince años de trabajo con la técnica en el Laboratorio forense de la Comisaría General de Policía Científica.

Fichero Adjunto